ICP-OES Spektrometri
SPECTRO ARCOS
Vrhunski SPECTRO ARCOS ICP-OES analizator podiže elementarnu analizu na viši nivo.
PREGLED


Novi SPECTRO ARCOS ICP-OES analizator donosi vrhunsku preciznost i fleksibilnost u elementarnoj analizi, zahvaljujući inovativnim tehnološkim rešenjima:
- Nova DSOI (dual side-on interface) tehnologija značajno povećava osetljivost i eliminiše probleme sa kontaminacijom i kompatibilnošću matriksa.
- Jedan instrument umesto dva – jedini MultiView plazma sistem na tržištu koji omogućava istinsko aksijalno i istinsko radijalno (pojedinačno ili dvostruko) posmatranje plazme u jednom uređaju.
- ORCA optički sistem: omogućava istovremeno snimanje spektra u opsegu od 130 do 770 nm, sa do 5 puta većom osetljivošću u poređenju sa Echelle sistemima – posebno u UV/VUV domenu.
SPECTRO ARCOS se ističe u industrijskim i naučnim primenama, pružajući naprednu analizu metala, hemikalija, petrohemikalija i drugih materijala.
Zahvaljujući MultiView mehanizmu bez periskopa, korisnik može da pređe sa radijalnog na aksijalni pogled (ili obrnuto) za manje od 90 sekundi. Dvostruko bočno posmatranje plazme dodatno poboljšava performanse i pouzdanost merenja.
CMOS linijski detektori eliminišu pojavu “blooming”-a, detektuju slabe tragove elemenata u prisustvu jakih linija matriksa, imaju širok dinamički opseg i ne zahtevaju hlađenje.
Dizajn uređaja osigurava nizak trošak rada i dug vek trajanja, uz savremeno kućište i dodatne funkcije poput:
- UV-PLUS sistema za gasnu purifikaciju bez potrebe za stalnim ispiranjem,
- patentiranog vazdušnog hlađenja,
- opcionog inteligentnog ventila,
- i prenosne video kamere za daljinski nadzor.
Novi SPECTRO ARCOS je dostupan u šest verzija, u zavisnosti od konfiguracije posmatranja plazme i talasnog opsega analize.
U okviru SPECTRO linije ICP-OES/ICP-AES instrumenata dostupni su i modeli SPECTROGREEN i SPECTRO GENESIS.
WEBINARI NA ZAHTEV
Webinare vezane za SPECTRO ARCOS možete pronaći u našoj biblioteci resursa.
PITANJA I ODGOVORI VEZANI ZA MULTIVIEW
Pitanja i odgovori za Multiview
Da li je potrebna neka optička kalibracija prilikom prelaska sa aksijalnog na radialni prikaz?
Ne, sistem je samopodešavajući.
Da li je visina posmatranja podesiva kod radialnih instrumenata ili kod MultiView u radialnom modu?
Visina pogleda u radialnom modu je fabrički optimizovana za najbolji odnos signal-šum (SNR).
Kako funkcioniše bez spoljnog sistema za hlađenje u aksijalnom modu?
Aksijalni interfejs ima rashladne rebra koja odvajaju toplotu putem prisilnog protoka vazduha.
Da li se posvećeni aksijalni ili radialni ARCOS može nadograditi na MultiView?
Da, u principu može, ali zahtevaće zamenu cele mehanike sa jednim prikazom u MultiView mehanizam.
Kako se održava preciznost merenja nakon rastavljanja i ponovnog sklapanja radi promene orijentacije plazme?
Montaža je takva da se optimalno poravnanje potpuno održava, pa preciznost merenja nije pogođena rastavljanjem i sastavljanjem.
Da li se za prelazak sa aksijalnog na radialni prikaz koristi ista baklja ili su potrebne različite baklje?
Radijalna i aksijalna baklja su različite. Radijalna ima pravilan stakleni deo i obično 1,8 mm injektorsku cev. Aksijalna baklja je nešto duža sa tulpastim krajem i obično koristi 2 mm injektorsku cev.
Da li je potrebno poravnavanje baklje nakon rotacije zavojnice? Može li se instrument koristiti sa neporavnatom bakljom?
Baklja je samoporediva pomoću bajonet spoja. Kada je spoj u potpunosti zaključen, baklja je poravnata. Plazma može da se upali samo kada je spoj potpuno zaključen.
Kako se vrši kalibracija za visoko preciznu analizu glavnih komponenti?
Kalibracija se može izvršiti pomoću softvera Smart Analyzer Vision. Koncentracija kalibracione supstance definiše standarde koji će se koristiti. Merenja se obavljaju određenim brojem ciklusa, nakon čega se automatski računa i primenjuje korekcija.
Da li je za MultiView potrebna kalibracija baklje pomoću Mn standarda svaki put kad se menja orijentacija baklje?
Ne. Optimizacija, koja može biti automatska, potrebna je samo ako se menjaju delovi za unošenje uzorka, npr. druga nebulizator ili komora za prskanje.
Da li uzorak mora biti rastvoren za ICP analizu?
Da, u principu ICP analize se rade na rastvorima.
Kako tip komore za prskanje utiče na osetljivost i rezultate?
Osetljivost uglavnom zavisi od nebulizatora, dok komora više utiče na preciznost i vreme pranja sistema. Na primer, plastične komore se teže prazne, što loše utiče na preciznost, male ciklonske imaju brži "washout", dok velike komore pružaju najbolju dugoročnu stabilnost.
Da li se MultiView može koristiti sa svim dostupnim sistemima za unošenje uzoraka?
Da, nema ograničenja.
Da li je baklja jednodelna ili rastavljiva?
Obe verzije su dostupne: jednodelna i rastavljiva.
Da li je dvostruki aksijalni prikaz ekvivalentan instrumentu samo sa aksijalnim prikazom?
U pogledu osetljivosti nema razlike između dvostrukog i posvećenog aksijalnog prikaza. Posvećeni aksijalni sistem je obično jeftiniji, pa ako nema potrebe za radialnim režimom, može se uštedeti. SPECTRO dual-view (Twin Interface) može se nadograditi na terenu.
Koliki je gubitak performansi u radialnom režimu kod dual-view sistema?
U opsegu talasnih dužina 165–285 nm, osetljivost je otprilike 2 puta manja nego kod posvećenog radialnog prikaza. Iznad 285 nm nema razlike.
Da li baklja koristi fiksne ili podesive pozicije?
Sistem koristi fiksne, fabrički optimizovane pozicije.
Da li aksijalni režim ima nedostatke pri analizi rastvora sa visokom koncentracijom HF?
Ne, visoke koncentracije HF ne utiču na aksijalni interfejs.
Kako se razlikuju troškovi dual/radial/axial/MultiView?
Radialni i aksijalni sistemi imaju slične cene. Dual-view povećava cenu za oko 5%, a MultiView dodatno za oko 5% u odnosu na ARCOS sistem.
Da li je moguće izabrati radialni režim za alkalne metale i aksijalni za ostale pri kalibraciji sa višekomponentnim miksom?
Obično se talasne dužine ispod 285 nm analiziraju aksijalno radi veće osetljivosti, a iznad 285 nm radialno. Za grupe 1 i 2 nema potrebe za veoma niskim nivoima detekcije i radialni režim je koristan za smanjenje efekata. Može se i cela analiza raditi u oba režima.
Koja je detekciona granica MultiView sistema?
Ista je kao kod posvećenih aksijalnih ili radialnih sistema.
Da li se isti uzorak može meriti u oba režima na MultiView? Da li je potrebna posebna kalibracija za svaki režim?
Da, moguće je. Kalibracioni standardi mogu biti isti, ali zbog različitog pogleda plazme potrebne su različite kalibracije.
Kako nebulizator utiče na režim posmatranja?
Nebulizacija je nezavisna od režima posmatranja. Pneumatski nebulizator ima efikasnost između 2% i 5%. U radialnom režimu posmatra se samo presek plazme, dok se u aksijalnom režimu posmatra ceo ekscitacioni pojas, pa je osetljivost viša u aksijalnom režimu.
Koji režim je preporučen za merenje sumpora na 182 nm?
Oba su pogodna. Za sumpor u organskim rastvorima se preporučuje radialni režim, dok je za sumpor u vodenim rastvorima bolji aksijalni režim zbog niže detekcione granice.
Da li dual-view znači da postoje dve svetlosne putanje?
Da. Za najviši performans koristi se automatsko sekvencijalno merenje sa aksijalnom i radialnom putanjom svetlosti. Postoji i simultani dual-view, ali sa kompromitovanim performansama.
Koji režim je bolji za analizu hlora (Cl) i koje su detekcione granice?
Za čiste vodene rastvore, LOD je oko 30 ppb u aksijalnom, a 100 ppb u radialnom režimu. Izbor zavisi od aplikacije i potrebne osetljivosti. Za rastvore sa visokim sadržajem rastvorenih čvrstih supstanci i organskim rastvorima preferira se radialni režim.
APLIKACIJE
U našoj biblioteci resursa pronaći ćete izveštaje o primeni za SPECTRO ARCOS.
TEHNIČKE BELEŠKE (WHITE PAPERS)
U našoj biblioteci resursa pronaći ćete i tehničke beleške (white papers) vezane za SPECTRO ARCOS.
VIDEO
Pogledajte video demonstracije SPECTRO ARCOS uređaja – ili kliknite ovde da pređete na SPECTRO kanal na YouTube.com.
SPECTRO ARCOS — Podizanje elementarne analize na viši nivo
SPECTRO ARCOS MultiView
ICP-OES tehnologija sledeće generacije
SPECTRO ICP-OES Analyzer Pro Software
Princip ICP-OES: Otkrivanje tajni uzorka
Demonstracije SPECTRO instrumenata — Iskusite kako elementarni analizator može da odgovori na vaše potrebe za testiranjem
JOŠ INFORMACIJA
Kliknite na link ispod da dodatno istražite SPECTRO ARCOS.
Infografik: Vaš ICP-OES elementarni analizator treba da ispuni sve kriterijume
Saopštenje za medije: SPECTRO predstavlja najnoviji SPECTRO ARCOS ICP-OES