Spektrometri zasnovani na rendgenskoj fluorescenciji (XRF) odavno se koriste za analizu sinterovanih metala. Međutim, sa pojavom novih tehnologija kao što je DMLS (Direct Metal Laser Sintering), odnosno 3D štampa metala, pojavljuju se i novi izazovi.

Ova tehnologija ima ogroman značaj u oblastima kao što su vazduhoplovna industrija, automobilski sektor, stomatologija, medicina, ali i u domenu brzog prototipiranja.

Za ovakve potrebe, SPECTRO XEPOS i SPECTROSCOUT XRF spektrometri posebno su pogodni za:

• kao i za proveru elementnog sastava gotovih proizvoda izrađenih pomoću 3D štampe metala.

• analizu metalnih prahova i sinterovanih metala,

• kontrolu kvaliteta prahova namenjenih za DMLS,